Ministério da Justiça e Seguranca Pública, Diretoria Tecnico-Cientifica/Dpf, Brasília (DF)
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) integrado com Feixe de Íon Focalizado (FIB - Focused Ion Beam) e Espectrômetro de Massa de Íons Secundários por Tempo de Voo (TOF SIMS - Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) e de 1 (um) Microscópio Eletrônico de Transmissão (ME
Publicado em 25/10/2024.
Valor
R$ 15.458.668,38
Compra encerrada
03/12/2024
Modalidade
Pregão - Eletrônico
Itens
- Microscópio
- Microscópio
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